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紫外近紅應用-薄膜測量

更新日期：2014-08-20 點(diǎn)擊次數：3680

實(shí)驗三紫外可見(jiàn)反射薄膜測量

目的：研究薄膜的光學(xué)透射性能

檢測:不同金屬薄膜在紫外可見(jiàn)近紅外的光譜

原理：研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性

試驗方法：

采用紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計中波長(cháng)掃描方式，做基線(xiàn)，后測定樣品

測定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見(jiàn)區光學(xué)性能不同

圖表 1 不同位置反射率

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