簡(jiǎn)要描述:雙光束干涉實(shí)驗系統是通過(guò)分束鏡得到兩束光程和強度都接近而且?jiàn)A角易于調節的光束,在光束的重疊區將產(chǎn)生干涉條紋,用于物理 光學(xué)專(zhuān)業(yè)教學(xué)的演示儀器。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
品牌 | TP/拓普 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池 |
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雙光束干涉實(shí)驗系統產(chǎn)品詳細資料
雙光束干涉儀是通過(guò)分束鏡得到兩束光程和強度都接近而且?jiàn)A角易于調節的光束,在光束的重疊區將產(chǎn)生干涉條紋,用于物理/光學(xué)專(zhuān)業(yè)教學(xué)的演示儀器。
雙光束干涉實(shí)驗系統采用鋁質(zhì)底板,利用便攜式實(shí)驗箱,擺放方便,節省空間。學(xué)生可自己動(dòng)手調節光路,使學(xué)生了解各種干涉儀的原理和應用。
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