簡(jiǎn)要描述:近代科學(xué)技術(shù)的許多領(lǐng)域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此,更加精確和迅速的測定給定薄膜的光學(xué)參數已變得更加迫切和重要。在實(shí)際工作中可以利用各種傳統的方法測定光學(xué)參數,如:布儒斯特角法測介質(zhì)膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱(chēng)重法、X射線(xiàn)法、電容法、橢偏法等。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
品牌 | TP/拓普 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品特點(diǎn):
儀器采用消光法自動(dòng)測量薄膜厚度和折射率,具有精度高、靈敏度高以及方便測量等特點(diǎn);
光源采用氦氖激光器,功率穩定、波長(cháng)精度高;
儀器配有生成表、查表以及精確計算等軟件,方便用戶(hù)使用。
規格與主要技術(shù)指標:
測量范圍:薄膜厚度范圍:1nm-300nm;
折射率范圍:1-10
測量zui小示值:≤1nm
入射光波長(cháng):632.8nm
光學(xué)中心高:80mm
允許樣品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm
偏振器方位角范圍:0°- 180°讀取分辨率為0.05°
測量膜厚和折射率重復性精度分別為:±1nm和±0.01
入射角連續調節范圍:20°- 90°精度為0.05°
主機重量:25kg
成套性:主機、電控系統、計算軟件
外形尺寸:680*390*320mm
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