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簡(jiǎn)要描述：本實(shí)驗裝置主要面向大專(zhuān)院校教學(xué)使用。本實(shí)驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，優(yōu)良的測試技術(shù)。本實(shí)驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。該實(shí)驗裝置具有機構簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無(wú)需暗房操作，實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)，故而應用廣泛，如物體形變測量、無(wú)損測量、震動(dòng)測量等。
產(chǎn)品型號：WSG-1型廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新日期：2025-04-29訪(fǎng) 問(wèn) 量：4934產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
| 品牌 | TP/拓普 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品詳細資料
本實(shí)驗裝置主要面向大專(zhuān)院校教學(xué)使用。本實(shí)驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，優(yōu)良的測試技術(shù)。本實(shí)驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
該實(shí)驗裝置具有機構簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無(wú)需暗房操作，實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)，故而應用廣泛，如物體形變測量、無(wú)損測量、震動(dòng)測量等。
自己調節光路，可提高動(dòng)手能力
采用了處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)
計算機處理圖象，軟件操作簡(jiǎn)便
可利用軟件畫(huà)出測試表面受力變形后的三維立圖
CCD攝像機（帶電源）、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調整架、分束鏡、擴束鏡、準直鏡、聚焦透鏡、平面反射鏡、偏振片、被測物品等
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